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https://blog.csdn.net/tfslovexizi/article/details/88733291
定义：主要是针对车载应用，汽车零部件，汽车车载电子实施标准规范，建立质量管理控制标准，提高车载电子的稳定性和标准化。预防可能发生各种状况或潜在的故障状态，对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认，特别对产品功能与性能进行标准规范测试。
在AEC-Q100文件中,定义出以下几类不同任务的测试群组:：
测试组 A: 加速环境应力测试(针对芯片产品)Accelerated Environment Stress Tests;
测试组 B: 寿命加速模拟测试 (针对芯片产品/IP/工艺库) Accelerated Lifetime Simulation Tests;
测试组 C: 封装完整性测试(针对芯片产品)Package Assembly Integrity Tests;
测试组 D: 工艺可靠性测试(针对Foundry厂) Die Fabrication Reliability Tests;
测试组 E: 电气可靠性测试(针对芯片产品/IO库) Electrical Verification Tests;
测试组 F: 缺陷筛选测试(针对芯片产品)Defect Screening Tests;
测试组 G: 封装过程后的封装完整性测试(针对芯片产品)Cavity Package Integrity。
每一个测试群组会再细化定义出几项测试项目,并说明这些测试项目的测试理论参考何项半导体业界所使用的认证规范(例如: JEDEC、MIL-STD883、SAE或者AEC-Q100本身所定义并且于附件里所定义的规则);每一个测试项目也同时会定义测试样品单一批次数量、测试批次量以及判断合格标准,若有额外的规范也会定义在每一项测试规范当中。
首先ACE-Q100对汽车零件工作温度等级定义如下：
0等级：环境工作温度范围-40℃-150℃
1等级：环境工作温度范围-40℃-125℃
2等级：环境工作温度范围-40℃-105℃
3等级：环境工作温度范围-40℃-85℃
4等级：环境工作温度范围0℃-70℃
AEC-Q100是由美国汽车电子协会AEC所制定的规范,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。
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